Često korišteni instrumenti za detekciju za analizu sastavananomaterijalauključuju:
1. ICP (induktivno spregnuta plazma): ICP je tehnologija koja se široko koristi u poljima analitičke kemije i znanosti o materijalima. Može se koristiti za određivanje sadržaja i sastava elemenata u nanomaterijalima. Pretvaranjem uzorka u plinovite ione i korištenjem generiranog spektra plazme za određivanje koncentracije elemenata. ICP-MS (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer) kombinira ICP i tehnike masene spektrometrije za analizu iznimno niskih koncentracija elemenata u nanomaterijalima.
2. XRF (rendgenska fluoroskopija): XRF je široko korištena tehnologija za analizu materijala i ispitivanje bez razaranja. Određuje sastav elemenata ozračivanjem površine ili unutrašnjosti uzorka X-zrakama i mjerenjem fluorescentnog zračenja karakteristika elementa u uzorku. XRF je prikladan za niz nanomaterijala, uključujući čvrste, tekuće i praškaste uzorke.
3. EDS (Energetsko disperzivna rendgenska spektroskopija): EDS je tehnika elektronske mikroskopije koja određuje sastav elemenata u uzorku mjerenjem rendgenskih zraka koje stvara interakcija između elektronskog snopa i uzorka u materijalu. EDS se često koristi u kombinaciji sa skenirajućom elektronskom mikroskopijom (SEM) za analizu sastava površine nanomaterijala.
