1. KlasifikacijaSkeniranje elektronskih mikroskopa
Skeniranje elektronske mikroskopije može se podijeliti na vrstu emisije toplinske elektrone i vrstu emisije polja u skladu s različitim načinima stvaranja elektrona. Filament koji se koristi za vrstu toplinskog elektrona je uglavnom mikroskopska mikroskopija volframa. Vrsta emisije polja
Razlika između emisije vrućeg polja i emisije hladnog polja.
2. KlasifikacijaPrijenosna elektronska mikroskopija
Prijenosna elektronska mikroskopija može se podijeliti na vrstu toplinske elektrone i tipu emisije polja u skladu s različitim načinima stvaranja elektrona. Filamenti koji se koriste za termionsku emisiju uglavnom uključuju volframove filamente i lanthanum heksaboridne filamente. Postoje dvije vrste emisije na terenu: emisija toplinskog polja i emisija hladnog polja.
3. Sličnosti i razlike između skeniranja elektronske mikroskopije i prijenosa elektronske mikroskopije
Njih dvoje imaju slične zahtjeve za uzorak: čvrsta, što je moguće suho, što je moguće slobodnije od onečišćenja ulja, a vanjske dimenzije udovoljavaju zahtjevima veličine komore uzorka.
Razlika je:
(1) O pripremi uzoraka: Sposobnost prodora TEM elektrona je vrlo slaba. Prijenosna elektronska mikroskopija često koristi visokoenergetske elektronske grede od nekoliko stotina kilovolta, ali i dalje zahtijeva mljevenje ili stanjivanje iona uzorka ili ultra tankog rezanja do debljine mikro nano ljestvice, što je najosnovniji zahtjev. SEM teško zahtijeva pripremu uzoraka i omogućuje izravno promatranje. Većina nekovodnih materijala zahtijeva produkciju vodljivih filmova (poput zlatnog premaza).
(2) O snimanju: Tijekom SEM snimanja, elektronska greda ne prodire u uzorak, već skenira njegovu površinu. Tijekom TEM snimanja, elektronski snop prodire u uzorak. Prostorna rezolucija SEM-a općenito je između xy-3-6nm,
Prostorna razlučivost TEM-a općenito može doseći 0,1-0,5Nm.
4. Koji je zahtjev za debljinu za uzorak prilikom provođenja TEM testiranja?
Debljina TEM uzorka trebala bi biti manja od 100 nm. Ako je previše debela, snop elektrona se ne prenosi lako, što rezultira nejasnim slikama i lošim slikama.
5. Koji su zahtjevi za uzorak prilikom provođenja TEM testiranja?
-Uzorak je općenito potreban da bude suh. Ako je uzorak rješenje, potrebno ga je spustiti na određeni supstrat (poput stakla), osušiti se, a zatim prskati ugljikom. Ako je sam uzorak vodljiv, nema potrebe za prskanjem ugljika.
6. Kako izvesti TEM na nanočesticama u vodenoj otopini?
Uzorci TEM -a moraju se testirati u visokim uvjetima vakuuma, dok se nanočestice u vodenim otopinama ne mogu izravno izmjeriti. Obično se mikro rešetke ili bakrene mrežice koriste za uklanjanje uzorka i stavljanje u uzorak prije ekstraktora. Nakon sušenja može se staviti u elektronski mikroskop za testiranje. Ako je veličina uzorka mala, a samo nekoliko nanometara, upotrijebite ne -porozni karbonski film da biste sakupili uzorak.
7. Zahtjevi za debljinom za uzorke visoke rezolucije
Prilikom snimanja TEM slika visoke rezolucije, najbolje je kontrolirati debljinu uzorka ispod 20 nm. Tanji uzorci mogu smanjiti raspršivanje snopa elektrona, poboljšati razlučivost slike. Za praške s promjerom manjim od 20 nm mogu se izravno ukloniti i promatrati na filmovima za potporu ugljika ili malim pore mikro rešetkama. Ako je promjer čestica veći od 20 nm, najbolje je ugraditi ga prvo, a zatim koristiti tehnologiju stanjivanja iona za tanku uzorak do debljine pogodne za promatranje.
8. Kako napraviti TEM za uzorke u prahu?
Ključ za pripremu uzoraka praha je dobar sporedni film i ravnomjerno rastjerati prah s umjerenom koncentracijom. Nakon što se potporna membrana potpuno osuši, treba ga staviti u elektronski mikroskop radi promatranja kako bi se izbjeglo pucanje potporne membrane pod zračenjem elektrona.
① Nasuprot tankoj podršci na bakrenu mrežicu;
② Odaberite razumno raspršivanje na temelju svojstava uzorka praha;
③ ravnomjerno rastjerati prah kroz ultrazvuk kako bi se stvorio ovjes;
④ Postavite otopinu praška na bakrenu mrežicu pomoću metoda kapljice ili žličice i sušiti je;
⑤ Osigurajte da je uzorak praha ravnomjerno raspoređen na bakrenoj mrežici i bez onečišćenja;
⑥ Lagano puhajte bakrenu mrežicu kuglom za pranje uha kako biste osigurali da nema lako padajućeg praha.
9. Zašto prskati zlato na neprovodnim ili slabo vodljivim uzorcima?
SEM snimanje je postupak dobivanja signala sekundarnih elektrona i povratnih elektrona kroz detektor. Ako je uzorak neprovodan ili ima lošu vodljivost, to će uzrokovati nakupljanje viška elektrona ili slobodnih čestica na površini uzorka koje se ne može pravovremeno voditi. Nakon određenog stupnja, pojavit će se ponovljeno punjenje i ispuštanje pojava, u konačnici utječu na prijenos elektroničkih signala, uzrokujući izobličenje slike, deformaciju, tresenje i druge pojave. Nakon raspršivanja zlata, vodljivost površine uzorka bit će poboljšana, izbjegavajući na taj način fenomen akumulacije.
10. Utječe li raspršivanje zlata morfologiju uzorka?
Nakon prskanja zlata na površini uzorka, samo je nekoliko do desetak slojeva atoma zlata prekriveno na njegovoj površini, s debljinom od samo nekoliko nanometara do desetak nanometara, što gotovo da ne utječe na morfologiju.
11. Kako demagnetizirati magnetski prah?
Magnetski prahovi mogu se pripremiti korištenjem elektronske mikroskopije Zeiss Field bez demagnetizacije, nakon pripreme konvencionalnih uzoraka praha. Ako se neki snažni magnetski materijali u obliku bloka mogu demagnetizirati zagrijavanjem ili primjenom vanjskog magnetskog polja, na tržištu postoje specijalizirani demagnetizatori.
12. Zašto magnetske čestice uglavnom nisu dopuštene podvrgnuti se elektronskoj mikroskopiji prijenosa?
Budući da uzorak treba spustiti na namjenski potporni film prilikom izrade magnetskih materijala, magnetski materijal može biti privučen za leću, što utječe na rezoluciju TEM -a i kontaminirajući elektronski mikroskop.
13. Zašto različiti instrumenti daju različite učinke na isti uzorak?
Ako su parametri kamere postavljeni na sličan način, učinak se neće značajno razlikovati. Samo različiti instrumenti imaju različite postavke parametara (sonda, napon, struja snopa itd.) Tijekom snimanja i specifični utjecaj kojih parametara treba analizirati na temelju rezultata snimanja.
14. Koji su specifični scenariji primjene za prskanje zlata, platine i ugljika?
Metalni ciljevi kao što su AU i PT mogu povećati vodljivost, povećati stvaranje sekundarnih elektrona i povratnih elektrona, imaju dobar omjer signal-šum i smanjiti prodor zraka elektrona, s ciljem dobivanja visokokvalitetnih slika. C Ciljani materijal, pogodan za analizu EDS -a, EBSD -a, WDS -a i drugih komponenti.
15. Prilikom snimanja SEM fotografija. Zašto prskati zlato ili ugljik na neprovodne ili loše vodljive uzorke?
Kada se promatra s skenirajućim elektronskim mikroskopom, kada se pojavi elektronskog snopa pogodi uzorak, nakupljanje naboja događa se na površini uzorka, tvoreći efekte punjenja i ispuštanja koji utječu na promatranje i fotografsko snimanje slike. Stoga se prije promatranja treba provoditi provodljivo tretman, poput prskanja zlata ili ugljika, kako bi se površina uzorka provodljila.
16. Uzorak ne sadrži ugljični element, ali rezultat pokazuje sadržaj veći od 70%, što previše odstupa od stvarne situacije. Kako se nositi s tim?
Energetski spektar neosjetljiv je na elemente s atomskim brojevima manjim od 11, a pogreške u ugljiku, dušiku i kisiku su česte. Osim toga, zagađenje ugljikom dolazi iz širokog raspona izvora, poput provodljivih ljepila, kontakta između uzoraka i ruku, DP pumpi, zračne prašine i tako dalje. Posebnu pozornost treba posvetiti nepodobnosti svjetlosnih elemenata poput ugljika, dušika i kisika za analizu energetskog spektra. Osim toga, ako je potrebno ispitivanje mapiranja, u pozadini može biti očito ugljik, dušik i kisik, osim uzorka, koji se ne može razlikovati od uzorka, mapiranje posvećuje posebnu pozornost na svjetlosne elemente poput ugljika, dušika i kisika. Ako je sadržaj veći od stvarne vrijednosti, može se umjetno smanjiti.
17. Razlog nejasnih rezultata pucanja morfologije
Loša vodljivost uzorka dovodi do nejasnih rezultata snimanja; Zahtjevi za snimanje su previsoki, a sam instrument ih ne može zadovoljiti; Usmjerenost ili astigmatizam nije pravilno podešen, što je općenito rijetko; Također je povezan s konfiguracijom uređaja i okruženjem instalacije.
18. U SEM slikama nekih uzoraka mogu se vidjeti očigledne crne mrlje elektrona. Kako ukloniti mjesta za elektronsku gredu u sučelju?
Crne mrlje elektrona mogu ukazivati na to da je uzorak relativno prljav i akumulirao je ugljik. Preporučuje se obratiti pažnju na okoliš za pohranu ili provoditi pravovremena ispitivanja na pripremljenom uzorku.
19. Koji je razlog da uzorak disperzije etanola uzima morfologiju, koji prikazuje sloj filma na supstratu?
Razlog nastupa koji nalikuje filmu je zbog raspršivanja etanola praćeno prskanjem zlata.
20. Zašto prijenosna elektronska mikroskopija nema boju?
Boja je određena bojom svjetlosti, to jest frekvencija elektromagnetskih valova, a svjetlost elektronskog mikroskopa nije prirodno svjetlo, već izvor svjetlosti elektrona, tako da ne može prikazati šarene boje. Prijenosna elektronska mikroskopija može otkriti fine strukture manje od 0,2UM koje se ne mogu jasno vidjeti pod optičkim mikroskopom, koje se nazivaju submikroskopskim strukturama ili ultrafinim strukturama. Da bi se ove strukture jasno vidjele, potrebno je odabrati izvor svjetlosti s kraćom valnom duljinom kako bi se poboljšala razlučivost mikroskopa. 1932. Ruska je izumio prijenosni elektronski mikroskop s elektronskim snopom kao izvor svjetlosti. Valna duljina elektronske zrake mnogo je kraća od vidljive svjetlosti i ultraljubičastog svjetla, a val snopa elektrona je
Duljina je obrnuto proporcionalna kvadratnom korijenu napona emitirane elektronske zrake, što znači da je veći napon, to je kraća valna duljina. Trenutno rezolucija TEM može doseći 0,2 nm, a slike dobivene elektronskom mikroskopijom su "sive slike" koje odražavaju broj elektrona (tj. Svjetline), bez informacija o boji.
Sat Nano je najbolji dobavljačlegura u prahu, metalni prah,oksidni prah, karabidni prahU Kini ne isporučujemo samo proizvode, već i možemo pružiti SEM i TEM i drugu tehničku uslugu, ako imate bilo kakav upit, slobodno nas kontaktirajte na sales03@satnano.com
